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2021年于美国中佛罗里达大学电子工程专业获得哲学博士学位，随后加入美国Analog Devices, Inc.（ADI）担任研究员。主要研究方向为宽禁带功率半导体器件可靠性及失效分析、宽禁带功率半导体器件集成技术等。曾担任IEEE EDS Orlando Section主席，在微电子器件可靠性领域著名期刊IEEE TED, APL和国际会议IEEE IRPS上发表论文近20篇。
杨文
教授
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